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德國 Gigahertz-Optik BTS2048-UV 是一款高品質緊湊型光譜輻射計，用于紫外測量。
? 高雜散光減少（BTS2048-UV-S 的減少濾光片版本）。
? 超快速接口和電子快門。
? 高光學分辨率。
? 適合各種測量任務（UV LED、氘燈、鎢絲燈到太陽輻射）。
? 高雜散光減少有助于將精確校準轉化為精確測量。
用于 BTS2048-UV 的 S-BTS2048 軟件
傳統(tǒng) CCD 探測器的光譜響應度通常在 200 nm 至 430 nm 范圍內。通常，CCD 探測器的這種寬光譜響應度范圍被稱為光譜輻射計的響應度范圍。然而，這沒有考慮色散光柵的光譜響應函數(shù)，這進一步降低了探測器在紫外光譜中的響應度。這會導致紫外線測量信號產生顯著誤差，主要是通過長波雜散光產生的。寬帶光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證窄帶 UV LED 等的精確測量。
專為紫外線輻射設計的 CCD 光譜輻射計具有有限的光譜范圍，并且具有非常高的光柵效率和非常高的光譜分辨率。此外，濾光片還可用于顯著減少雜散光。
BTS2048-UV 滿足高端紫外二極管陣列光譜儀的所有要求，盡管采用尖端技術，但價格極具吸引力。
BiTec 傳感器的一項獨特功能是背照式 CCD 光譜儀和硅光電二極管的組合，可提供高線性度，從而實現(xiàn)極快的測量。具有熱電冷卻功能的全線性化 2048 像素 CCD 探測器由于其積分時間范圍為 2 μs 至 60 s，因此可提供非常寬的動態(tài)范圍。這樣可以在較寬的強度范圍內精確測量 UV LED。該設計在 190 nm 至 430 nm 的整個光譜測量范圍內提供 0.8 nm 的高光學分辨率。該光譜儀還配備了兩個光學濾波器，用于自動低雜散光測量。在存在其他光源的情況下，此類測量對于寬帶 UV 燈和 UV LED 是必要的。 BiTec 探測器內的極高線性度 SiC 光電二極管用于 CCD 的線性化或用作參考探測器。 SiC 光電二極管的輻射響應度功能使其能夠獨立于 CCD 使用?？梢允褂孟鄳墓庾V數(shù)據(jù)自動校正輻射精度。因此，該設備可用于對非常微弱的信號執(zhí)行快速測量，這使得 BTS20418-UV 非常適合集成在測角儀中。盡管尺寸緊湊（103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米 – 長 x 寬 x 高），BTS2048-UV 分光輻射度計仍配有一個遙控濾光輪，其中有兩個光學濾光片和一個用于暗測量的快門。
為了促進 CCD 傳感器動態(tài)范圍的最佳使用并克服大多數(shù)陣列光譜輻射計在紫外范圍內的問題，在光束路徑中放置了一個遙控濾光輪（打開、關閉、光學濾光片）。該濾波器與智能測量和雜散光校正程序相結合，可實現(xiàn) BTS2048-UV 的高質量測量。
BTS2048-UV 針對其他紫外線源的一般測量進行了優(yōu)化。 Gigahertz-Optik 的雜散光校準技術與進一步的智能測量程序相結合，可實現(xiàn)卓越的雜散光抑制。可根據(jù)要求選擇性地提供 BTS2048-UV 附加雜散光校正矩陣的校準。
多年的經驗及其設備齊全的 DAkkS 校準實驗室 (DK-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能夠提供低至 200 nm 的可追溯校準。這拓寬了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的應用范圍。對于短波光譜范圍，Gigahertz-Optik GmbH 實施了一種特殊的基于氘燈的校準策略。
BTS2048-UV 非常適合工業(yè)應用中的 UV 前端和后端 LED 測試。其 CCD 探測器在觸發(fā)測量之前集成了所有像素的電子調零功能（電子快門）。當測試 LED 在脈沖電流模式下運行時，電子快門和測量觸發(fā)可通過觸發(fā)端口與電源同步。強大的微處理器只需 7 毫秒即可通過快速 LAN 接口將完整的數(shù)據(jù)集傳輸?shù)较到y(tǒng)計算機。
BTS2048-UV 光譜輻射計具有擴散器窗口，因此可用于測量 UV 輻照度，包括。光譜和峰值波長，無需任何額外的配件。通過擴散窗，BTS2048-UV 還可以直接安裝在積分球、輻射透鏡和測角儀等附件上，以測量輻射功率、輻射率和輻射分布。
標準S-BTS2048 用戶軟件具有可定制的用戶界面，并提供大量顯示和功能模塊，在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相應配件配置 BTS2048-UV 時可以激活這些模塊。提供S -SDK-BTS2048 開發(fā)者軟件，用于將 BTS2048-UV 集成到客戶自己的軟件中。
光度測量設備的一項基本質量特征是其精確且可追溯的校準。 BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的ISO/IEC 17025 校準實驗室進行校準，該實驗室根據(jù) ISO/IEC 17025的光譜響應度和光譜輻照度獲得 DAkkS (DK-15047-01-00) 認可。校準還包括相應的附件組件。每臺設備均附有各自的校準證書。
| （1）常規(guī)參數(shù) | |||
| 簡短的介紹 | UV 優(yōu)化的 TE 冷卻 CCD 光譜儀具有寬動態(tài)范圍，適用于 CW 和輻照度、光譜和峰值波長的短期測量。其他參數(shù)的配件。 | ||
| 主要特點 | 設備緊湊。 BiTec 探測器，配備背照式 TE 冷卻 CCD（2048 像素、0.8 nm 光學分辨率、電子快門）和 SiC 光電二極管。光學帶寬校正（CIE214）。帶快門和邊緣濾鏡的濾鏡輪。帶擴散窗的輸入透鏡。余弦視場。 | ||
| 測量范圍 | 3E-5 W/(m2nm) 至 3E4 W/(m2nm) @325nm。響應度從 190 nm 到 430 nm。 | ||
| 典型應用 | 用于設計應用的 CCD 光譜輻射計。用于集成到前端和后端 LED 測試的測試系統(tǒng)中的模塊。 | ||
| 校準 | 工廠校準。可追溯至國際校準標準 | ||
| （2）產品 | |||
| 典型應用 | 用于光譜輻照度、紅斑等的照度計 | ||
| 測量數(shù)量 | 光譜輻照度 (W/(m2 nm))、輻照度 (W/m2)、峰值波長、中心波長、質心波長、紅斑?？蛇x積分球：另外光譜輻射功率 (W/nm) 和輻射功率 (W) | ||
| 輸入光學器件 | 擴散器，余弦校正視場 (f2 ≤ 3 %) | ||
| 濾光輪 | 4 個位置（打開、關閉、光學濾鏡）。用于遠程暗電流測量和雜散光減少。 | ||
| BiTec | 可以使用二極管和陣列進行并行測量，從而通過二極管對陣列進行線性校正，并分別通過a*(s z ( λ )) F*(s z ( λ )) 在線校正二極管的光譜失配。 | ||
| 測量模式 | 標準測量模式：200 nm 至 430 nm； 超出范圍雜散光校正測量模式 (OoR SLC)：200 nm 至 430 nm； 雜散光校正帶通測量模式 (BP SLC)：300 nm 至 386 nm。 | ||
| 校準不確定度 | 光譜輻照度
光譜輻照度響應度 (200 - 430) nm | ||
| （3）光譜探測器 | |||
| 積分時間 | 2μs - 60s *1 | 光譜范圍 | (190 - 430) 納米 |
| 光帶寬 | 0.8納米 | 像素分辨率 | ~0.13 納米/像素 |
| 像素數(shù) | 2048 | 芯片 | 高靈敏度背照式 CCD 芯片，一級冷卻 (1TEC) |
| 模數(shù)轉換器 | 16 位（25 ns 指令周期時間） | 峰值波長 | ±0.05納米 |
| 帶通校正 | 支持數(shù)學在線帶通校正 | 線性度 | 完全線性化芯片>99.6% |
| 雜散光 | Out of Bound method < 1E-4 *3 | 基線噪聲 | 5 cts *4 |
| 信噪比 | 5000 *5 | 動態(tài)范圍 | >9 震級 |
| 光譜響應度 | (3E-5 - 3E4) W/(m2nm) @325nm *6*7 | ||
| 典型測量時間 | W/m2 of a Halogen lampe from (250 - 400) nm
| ||
| （4）一體式探測器 | |||
| 測量時間 | (0.1 - 6000) 毫秒 | 校準 | 輻照度±6%* 10 |
| 模數(shù)轉換器 | 16位 | 測量范圍 | 可選：(5E-3 - 2E5) W/m2 * 11 |
| 測量范圍 | 七 (7) 個測量范圍，具有卓越的偏移校正功能 | ||
| 篩選 | 可選：對 220 nm 至 360 nm 范圍內的矩形函數(shù)的響應度進行數(shù)學調整（使用測得的光譜數(shù)據(jù)對輻射函數(shù)進行 SMCF 在線校正）。* * 二極管的光譜響應度不對應于矩形函數(shù)（光學濾波器不可能）。當測量光譜偏離積分檢測器（UV LED，峰值為 405 nm）的光源時，使用 SMCF 校正測量結果。該校正的不確定性取決于測量光譜（噪聲）的質量和校正因子（光譜范圍）的大小。 | ||
| （5）圖表 | |||
| 光譜響應度 | |||
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| f2（方向響應/余弦誤差） | |||
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| （6）其它參數(shù) | |||
| 微處理器 | 32位用于設備控制，16位用于CCD陣列控制，8位用于光電二極管控制 | ||
| 接口 | USB V2.0、以太網（LAN UDP協(xié)議）、RS232、RS485 | ||
| 數(shù)據(jù)傳輸 | 標準為 2048 個浮點數(shù)組值，通過以太網 7ms，通過 USB 2.0 140 ms | ||
| 輸入接口 | 2x (0 - 25) VDC，1x 光電耦合器隔離 5 V / 5 mA | ||
| 輸出接口 | 最大 2x 集電極開路最大 25V 500毫安 | ||
| 扳機 | 合并觸發(fā)輸入（不同選項、上升/下降沿、延遲等） | ||
| 軟件 | 用戶軟件 S-BTS2048 可選軟件開發(fā)套件 S-SDK-BTS2048，用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中的 .dll 進行用戶軟件設置。 | ||
| 電源 | 帶電源：直流輸入 5V (±10 %) @ 700 mA 帶 USB 總線 (500mA) *8 | ||
| 尺寸 | 103毫米×107毫米×52毫米（長×寬×高） | 重量 | 500克 |
| 安裝 | 三腳架和 M6 螺紋； 前適配器 UMPA-1.0-HL，與積分球端口框架 UMPF-1.0-HL 配合使用。 | 溫度范圍 | 儲存：（-10 至 50）℃ 操作：（10 至 30）°C *9 |
| 信息 | *1 建議對積分時間的每次變化執(zhí)行新的暗信號測量。 *2典型值，主波長的不確定度取決于LED的光譜分布。 *3 典型值，在具有深藍色 LED 峰值的冷白寬帶 LED 峰值左側 100 nm 處測量。 *4 *5 典型值是在未對 4ms 測量時間和陣列滿量程控制進行平均的情況下測得的。平均導致 S/N 二次上升，即基礎噪聲二次下降，例如平均到 100 倍，S/N 提高 10 倍。 *6 最小 500/1 序列號。全量程控制下的最大值。 *7 只允許短時間照射，以避免熱損傷。 *8 在 USB 連接期間，由于電流供應有限，并非所有功能都可用，例如沒有以太網和 TEC 冷卻。 *9 大約需要溫度穩(wěn)定裝置。 25分鐘在預熱階段進行測量，或者如果在變化的溫度下進行測量，則每次測量都需要進行暗信號測量。 *10 使用氘燈進行 (Z) 校正。 *11 根據(jù)氘燈的光譜功率分布，僅允許短時間的最大輻射，以避免熱損壞。 | ||
? S-SDK-BTS2048：BTS2048 變體的軟件開發(fā)套件。
? GB-GD-360-RB40：用于測量 2π 源的測角儀。
? BTS2048-UV-S：使用這款高品質緊湊型光譜輻射計進行紫外測量。
? GB-GD-360-RB40-2-BTS2048-UV：實現(xiàn)紫外線消毒燈的高光譜雜散光抑制。
? BTS2048系列：緊湊型光譜輻射計具有出色的光學性能和 BiTec 技術，可實現(xiàn)實驗室和現(xiàn)場使用的精確測量。
